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zoubensan |
发表时间：2010-6-29 15:49:30 |
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 第一次留言
欢迎大家来论坛讨论问题，共同促进中国电子显微事业的发展！
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电镜回复：2010年全国电子显微学学术年会暨第八届海峡两岸电子显微学学术研讨会于2010年10月8-13日在浙江省杭州市召开。今年是中国电镜学会成立30周年，本次年会将是了解电子显微学及相关仪器技术的前沿发展，交流基础研究与应用研究新进展的高学术水平的大会。
一、会议主要内容：
（一）会议学术交流内容包括：（1）透射电子显微镜、扫描电子显微镜、微束分析、扫描探针显微镜（包括STM、AFM等）、激光共聚焦显微镜等在材料科学、生命科学、物理学、化学化工、环境科学、地学等领域中的基础研究和应用研究成果；（2）显微学相关仪器的理论、技术和实验方法的发展与改进；（3）电镜及其它显微学仪器的使用、改进与维修经验的交流等。
（二）会议报告人物包括：（1）邀请国内外著名学者参加会议并作大会特邀报告和分会场特邀报告；（2）邀请相关仪器设备的厂商介绍仪器的最新发展情况；
（三）会议的会展包括：（1）各种相关产品展示；（2）2010年首届中国电子显微学摄影大赛优秀摄影作品展。（3）关于中国电镜学会成立30周年的成就展。
（四）本届年会将评选优秀学生论文奖与优秀Poster奖（请参会代表自带Poster）。
二、组织机构
主办单位：中国电子显微镜学会
协办单位：浙江大学
大会主席：张泽 中国科学院院士
学术委员会主席：叶恒强 朱静 张泽 中国科学院院士
组织委员会主席：韩晓东 教授
三：会议日程
日 期 上 午 下 午
10月8日 全天代表注册、报到
10月9日 开幕式及大会报告 分会报告、墙报及展览会
10月10日 颁奖仪式及大会报告 分会报告、墙报及展览会
10月11日 大会报告、墙报及展览会 西溪湿地旅游、观看印象西湖演出
10月12日 会议代表千岛湖一日游
10月13日 鉴于无法确定12日晚回杭州时间，请代表最好13日离会
四、报到日期和地点
会议报到日期：10月8日下午13：00报到入住杭州花港海航度假酒店
会议报到地点：杭州市西湖区杨公堤1号杭州花港海航度假酒店 310027；电话总机：0571-87998899
说明：由于杭州出租车比较紧张，10月8日会议组委会将安排专车在城站火车站及民航武林门站免费接送。也可以自己乘车过去，乘车方式和费用如下：
（1）杭州萧山国际机场到杭州花港海航度假酒店约 37 公里；出租车费约100元；
（2）民航大巴车费20元到武林门站；从武林门站到杭州花港海航度假酒店约3公里打车约12元左右
（3）杭州城站火车站到杭州花港海航度假酒店约8公里；打车约20元
五、联系方式
联系人一：胡萍
电话/传真：010-82673560 手机：13552527930；
E-mail:cemshp@163.com
联系地址：北京市海淀区中关村北二条13号，中国电子显微镜学会，100190
联系人二：李宁春
电话/传真：010-82671519； 手机：13910743390（北京） /13516826617(杭州)
联系地址：北京市海淀区中关村北二条13号，中国电子显微镜学会或电子显微学报编辑部 100190
六、注意事项
1、本次会议的注册代表享有参加本次年会一切活动的权利；
2、关于详细会议日程安排、会议论文集、报名交费大会赞助等，见附件；
3、会议通知的相关内容可以到下关下载里下载。
中国电子显微镜学会
2010年6月7日
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zoubensan |
发表时间：2010-6-29 15:31:59 |
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 透射电镜
制备样品
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电镜回复： |
guozhenxi999 |
发表时间：2010-6-11 18:42:00 |
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SEM能不能给出像AFM高度图一样的3-D立体图
SEM能不能给出像AFM高度图一样的3-D立体图？
我想测定超疏水涂层表面粗糙，但用AFM测定时，由于试样表面粗糙度太大，容易跳针。光学显微镜可以合成3-D图，但光学显微镜的放大倍数又太小，所以我想咨询一下，有没有SEM带有这样的软件功能。
谢谢
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电镜回复：目前已有商用的扫描电镜（SEM）的三维测试软件，使SEM具有类似于原子力显微镜（AFM）的3D测试功能。但SEM与AFM的测试原理、测量精度、图像分辨率和观测视场均有所不同。
SEM分辨率约为 1nm。SEM图像景深大，立体感强，这是由电子束小孔径成像的特征所决定。特别是对于金属/陶瓷等断口样品，以及凹凸程度大的自然表面样品（如沉积膜和涂层表面等），其二次电子像有明显的3D视觉效果。但通常的SEM大景深图像并不等于3D图像，也无法直接构建出三维图像。SEM图像的形成过程基于透视投影，即三维物体透射到一个二维平面，由此，第三维的信息会丢失，通常只能在平面像中进行二维尺度的测量，而不能实现高度/深度测量。但SEM中的立体显微术（Stereomicroscopy / Stereogrammetry），可使SEM的大景深图像成为全景深图像[1, 2]，即形成立体像。利用SEM的立体成像功能开发出的SEM的3D重构软件，可以实现对表面轮廓、粗糙度及“Z”高度的3D定量测量。其基本原理是，在样品台全对中倾转条件下，将样品倾角两个不同角度拍摄图像，构成所谓的立体照片对，再通过样品倾角、X-位移、图像放大倍率、工作距离等成像参数，计算出图像中各像素的高度值。目前SEM的3D软件价格昂贵，应用尚不普遍。
AFM是以原子级的分辨率，实现实空间成像和测量的仪器。SPM的仪器分辨率包括横向分辨率（约0.1nm）和纵向分辨率（0.01nm）两个指标。在AFM中，采用一个实物针尖及精确的调控/反馈技术，使针尖接触或逼近样品表面，在样品表面扫描成像。通过检测隧道电流、电压、针尖－样品表面的作用力等，精确测量出样品表面的微小起伏程度，得到样品表面的定量3D图。精确测试表面粗糙度是SPM的基本功能和显著特点之一，在此基础上，形成了纳米计量学（Nano-Metetrology）。
此外，SEM与聚焦的离子束集成的双束设备 (SEM-FIB)，采用离子束逐层剥离，电子束逐层成像的方法，也可以形成3D重构像。但设备价格昂贵，测试成本高。
总之，以电子束为基的3D测量技术（SEM、SEM-FIB、EPMA等），观察视场大，适于观测粗糙度大的样品，如超疏水涂层等。高度测试范围只能达到微米级，如德国联邦技术物理研究所提供的3D软件的高度测试例为240 nm – 50um。以SPM为基的3D技术测量，测量精度可达纳米级，但观察视场小，适于观察表面起伏小的表面。
以上回答供参考，并附参考文献。
参考文献：
1.J. I Goldstone, et al. Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. Kluwer Academic/ Plenum Publishers, 209-220 (2003).
2.L. Reimer. Scanning Electron Microscopy. Springer, 41, 250, 335, 376 (1998).
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guozhenxi999 |
发表时间：2010-6-11 18:40:56 |
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如何是电镜的分辨率提高到1.36埃
如何是电镜的分辨率提高到1.36埃？
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电镜回复： |
guozhenxi999 |
发表时间：2010-6-11 18:39:55 |
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透射电镜参数
购买透射电镜需要注意哪些指标？
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电镜回复：1 点分辨率（用非晶HRTEM像的FT计算得到）；2 高压及放大倍数的误差。 |
guozhenxi999 |
发表时间：2010-6-11 18:36:16 |
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如何实现金属纳米线的原为拉伸
如何实现金属纳米线的原为拉伸？
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电镜回复： |
guozhenxi999 |
发表时间：2010-6-11 18:35:00 |
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如何消除电镜的离域效应？
如何消除电镜的离域效应？
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电镜回复： |
guozhenxi999 |
发表时间：2010-6-11 18:34:12 |
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等离子体可以消除那些元素？
等离子体可以消除那些元素？
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电镜回复： |
guozhenxi999 |
发表时间：2010-6-11 18:33:27 |
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离子减薄瞬时温度有多少？
离子减薄瞬时温度有多少？
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电镜回复： |
guozhenxi999 |
发表时间：2010-6-11 18:32:09 |
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如何减少电镜样品的非晶层？
如何减少电镜样品的非晶层？
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电镜回复： |
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